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電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗(yàn)解決方案/成功案例
日期：2017-04-17瀏覽：4854次
電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗(yàn)解決方案/成功案例
近年來國內(nèi)外電子整機(jī)的失效統(tǒng)計顯示，元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下，引起人們普遍關(guān)注。元器件本身及使用的可靠性提高對于整機(jī)可靠性的提高具有關(guān)鍵的作用。
行業(yè) | 檢測對象 | 用途 | 工藝 | 解決方案 |
電子部品 |
印制電路板 | 生產(chǎn) | 絕緣層涂料硬化干燥 | 高溫試驗(yàn)箱 |
層間接合硬化 | 真空高溫試驗(yàn)箱 | |||
脫泡 | 250℃真空高溫箱 | |||
評價 | 熱循環(huán)加速試驗(yàn) | 冷熱沖擊試驗(yàn)箱＋導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) | ||
溫濕度偏壓電壓加速試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
高溫高壓材料耐濕試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
LED | 生產(chǎn)/檢查 | 脫泡試驗(yàn) | 真空高溫試驗(yàn)箱 | |
評價 | 高溫試驗(yàn) | 高溫試驗(yàn)箱 | ||
低溫放置試驗(yàn) | 中型高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱 | |||
溫度循環(huán)試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |||
磁性材料 | 生產(chǎn) | 干燥 | 高溫試驗(yàn)箱 | |
評價 |
| 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | ||
| 高壓加速老化試驗(yàn)箱 |
信息通訊
信息通訊設(shè)備使用范圍從室內(nèi)到野外，從熱帶到寒帶，不同地方經(jīng)受這多樣的環(huán)境條件。同時伴隨市場的小型化、便攜性要求的日益提高，裝置密度也不斷增加。因此，元器件選擇、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品定型、制造工藝及失效分析都對可靠性提出了嚴(yán)格的要求。
行業(yè) | 檢測對象 | 用途 | 工藝 | 解決方案 |
IT通訊 |
傳輸交換設(shè)備 | 檢查 | 冷熱沖擊試驗(yàn) | 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 |
高溫放置試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |||
老化試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |||
評價 | 熱循環(huán)試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | ||
lcordia試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |||
| 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
導(dǎo)通評價 | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) | |||
移動通信終端 | 檢查 | 成品動作試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |
| 高低溫(濕度）試驗(yàn)室 | |||
評價 | 溫濕度試驗(yàn) | 小型環(huán)境試驗(yàn)箱 | ||
| 高壓加速老化試驗(yàn)箱 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
導(dǎo)通評價 | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) | |||
計算機(jī) | 檢查 | 冷熱沖擊試驗(yàn) | 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 | |
高溫放置試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |||
老化試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |||
評價 | 成品或零部件的綜合評價 | 溫度、濕度、振動三綜合試驗(yàn)箱 | ||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
導(dǎo)通評價 | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) | |||
計算機(jī)外存儲設(shè)備 | 檢查 | 元器件篩選 | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | |
成品老化處理 | 高低溫(濕度）試驗(yàn)室 | |||
評價 | 保證溫濕度范圍內(nèi)動作試驗(yàn) | 高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱(J系列） | ||
| 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
導(dǎo)通評價 | 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) |
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 表面電阻和體積電阻率測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 美國BK PRECISION
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
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