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美國FLUKE LCR電橋PM6306，PM6304已停產(chǎn)替代型號MICROTEST6373

日期：2013-12-18瀏覽：2639次

美國FLUKE LCR電橋PM6306，PM6304已停產(chǎn)替代型號MICROTEST6373,MICROTEST6374,MICROTEST6375,MICROTEST6376,MICROTEST6377

福祿克Fluke數(shù)字LCR電橋PM6306是器件測量的強大功能及多功能性和遠程編程功能的*組合。RS-232 或 IEEE-488和ComponentView測試軟件，使得福祿克數(shù)字電橋FLUKE PM6306 RCL成為了自動化測試設(shè)備的低成本解決方案，如用于制造業(yè)的器件檢查或質(zhì)量控制。操作從未如此簡單過－只需將器件連接到測試接線柱或夾具，即可馬上從LCD大顯示屏上讀得主要參數(shù)和第二參數(shù)，并查看等效電路圖。利用IEEE-488接口，RCL測試儀即成為自動化器件測試環(huán)境的核心，每秒鐘可進行10次測量。或者利用RS-232接口，則可以從PC上簡單、經(jīng)濟的控制測試儀，用于元器件的篩選。利用分級功能，用戶可以編輯容差極限，將器件分成多達10個級別。然后將器件插入到測試固定裝置，即可直接從顯示屏上讀取指示出的級別編號。利用可選的接口，可以直接讀取級別指示或通過/失敗指示，以及外部測量觸發(fā)輸入，加速分級進度。這些儀器的基本功能和其測試頻率和電壓電平的多樣性，使其成為商業(yè)中的兩款RCL測試儀。正如全自動操作下顯示特征參數(shù)和等效電路圖那樣，您也可以手動選擇其它感興趣的參數(shù)。按下按鍵鎖定器件的相位角、阻抗、Q（品質(zhì)因數(shù)）值和D（耗散因數(shù)）值。使用平均功能，則可以獲得更穩(wěn)定的讀數(shù)。為了進行快速的器件比較，PM 6306 LCR 數(shù)字電橋還提供了偏差模式。選件豐富，從RS-232 或 IEEE-488 接口（選擇接口是PM 6306的標準配置）、直流測試功能、測量器件管理界面和Microsoft Windows ®測試軟件，直到功能強大的器件測量和測試工具－覆蓋了開發(fā)實驗室到生產(chǎn)線的全部范圍。

利用ComponentView軟件，則可以從保存的文件中調(diào)取設(shè)備配置。當Windows軟件請求數(shù)據(jù)時，即開始測試器件?？梢詫?shù)據(jù)進行歸檔、分析，用作通過/失敗測試的條件，或者可以直接在屏幕上進行繪制，直觀地分析。還可以將數(shù)據(jù)以標準的Microsoft Excel格式導出。利用其掃描模式，即可輕松地測試器件在不同環(huán)境范圍內(nèi)的參數(shù)。只需選擇所需的頻率或電壓范圍，ComponentView軟件將執(zhí)行測量序列。選擇電流/電壓監(jiān)測功能，可以查看在被測器件上測得的實際測試電流和電壓值。這能夠zui大程度上保護對電流敏感的元器件，并可以隨元器件的參數(shù)一起測試電流。

福祿克數(shù)字電橋FLUKE PM6306 RCL具有您所需的測試頻率，比同類的儀器具有更多的測試頻率選擇。對于測試原級功率器件，如變壓器和濾波電容，這些設(shè)備具有50和60 Hz的測試頻率，并具有100和120 Hz的紋波頻率。在100 Hz 至 20 kHz的范圍內(nèi)，兩款RCL測試儀均提供100 Hz的分辨率，用于精密地頻率表征。為了測試小電容，PM 6304 LCR 數(shù)字電橋還提供了100 kHz的頻率，而PM 6306 LCR 數(shù)字電橋的測試頻率則連續(xù)可調(diào)，直到 1 MHz。器件測試電平從2V可調(diào)，可達50 mV，保證靈敏的半導體結(jié)處于其門限電壓之下。從內(nèi)置源或高達40 V dc的外部源，可以添加直流偏置。利用可選的直流測試測量功能，可以測試器件的直流電阻。只需按下前面板的按鍵，即可比較器件的直流和交流電阻值。通過測量連接從阻抗，PM 6306 LCR 數(shù)字電橋可以檢查器件的連接。操作非常簡單，只需按下相應(yīng)的按鍵，就會顯示連接結(jié)果，并且您能夠確保適當?shù)?線器件連接。

美國FLUKE LCR電橋PM6306，PM6304已停產(chǎn)替代型號MICROTEST6373,MICROTEST6374,MICROTEST6375,MICROTEST6376,MICROTEST6377

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