產(chǎn)品名稱:梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平
產(chǎn)品型號:XPR204/AC
更新時(shí)間:2024-08-19
產(chǎn)品簡介:
專業(yè)為中國區(qū)用戶提供梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,由堅(jiān)JET和融YOO兩位技術(shù)工程師于2011年共同創(chuàng)立,志在破舊立新!*測試測量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售,不專業(yè)做售前測試方案,不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn),專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平規(guī)格
大秤量 | 220 g/81 g |
可讀性 | 0.1 mg; 0.01 mg |
重復(fù)性測試載荷 | 0.015 mg (10 g) |
小稱量值(USP, 0.1%,典型值) | 20 mg |
校正 | 內(nèi)部/ FACT |
秤盤外形尺寸(寬x深) | 78 mm x 73 mm |
合法交易 | 適用 |
穩(wěn)定時(shí)間 | 1.5 s |
重復(fù)性(典型值) | 0.01 mg |
線性誤差(典型值)± | 0.2 mg |
尺寸 | 485 mm |
尺寸 (高x寬) | 292 mm x 195 mm |
物料號 (s) | 30535455 |
梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平
每次均得有效結(jié)果.
XPR分析天平、81/220 g量程、0.01/0.1 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測、自動(dòng)內(nèi)部校正且配有LabX
一次即準(zhǔn)的結(jié)果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用,確保各項(xiàng)條件處于佳狀態(tài),獲得正確的稱量結(jié)果。
StaticDetect
由于具備StaticDetect專li功能,XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電放電。
隨時(shí)可進(jìn)行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件,為法規(guī)遵從和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。
XPR分析天平可讀性為0.005 mg至0.1 mg,量程為41 g至320 g,可滿足您全部的分析工作流程要求。
XSR分析天平的可讀性范圍為0.01 mg至0.1 mg,量程從41 g至320 g。
量程可達(dá)320 g
可讀性低至0.005 mg
小稱量值低至1 mg
符合USP的小稱量值低至10 mg
符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
質(zhì)量保證功能主動(dòng)監(jiān)控是否滿足正確稱量的所有相關(guān)條件。
創(chuàng)新型防靜電解決方案
XPR天平采用獲得專li的防靜電解決方案,可檢測和消除樣品和稱量容器上的靜電電荷。
確保更快速提供稱量結(jié)果的解決方案
SmartGrid網(wǎng)格秤盤可大限度減小氣流對于稱量單元的影響,可使天平快速達(dá)到穩(wěn)定和更快速地提供結(jié)果。
確保數(shù)據(jù)完整性
將XPR天平與LabX軟件相連接,幫助您滿足MHRA與FDA 21 CFR第11部分關(guān)于數(shù)據(jù)完整性的要求。
易于清潔
XPR天平內(nèi)的防風(fēng)罩可輕松拆除,無需使用任何工具。 所有部件均可在洗碗機(jī)中安全清洗。
智能選配件
經(jīng)過專業(yè)設(shè)計(jì)的選配件可支持您完成日常任務(wù)、優(yōu)化稱量過程效率和改進(jìn)稱量人體工程學(xué)。