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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：碳化硅SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲線參數(shù)測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-08-20

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

碳化硅SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲線參數(shù)測(cè)試儀，適用于MOSFET、CMOS，IGBT，三極管，二極管等材料、工藝和半導(dǎo)體器件電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。日本巖崎IWATSU半導(dǎo)體特性曲線圖示儀3KV-15KV，400A-8000A；CS-3300，CS-3200，CS-5400，CS-5300，CS-5200，CS-10800

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

  碳化硅SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲線參數(shù)測(cè)試儀，適用于MOSFET、CMOS，IGBT，三極管，二極管等材料、工藝和半導(dǎo)體器件電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。

日本巖崎IWATSU半導(dǎo)體特性曲線圖示儀3KV-15KV，400A-8000A；CS-3300，CS-3200，CS-5400，CS-5300，CS-5200，CS-10800適用于碳化硅SiC、氮化鎵GaN、IGBT、二極管，晶體管，場(chǎng)效應(yīng)管 MOS-FET， 可控硅 SCR，達(dá)林頓陣列，光電耦合，壓變電阻 VARISTOR，繼電器 RELAY 等半導(dǎo)體器件反向 恢復(fù)特性，短路特性，雪崩測(cè)試，結(jié)電容/電阻測(cè)試，漏電參數(shù)，擊穿參數(shù)，增益參數(shù)，導(dǎo) 通參數(shù)，混合參數(shù)，電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。

日本IWATSU Curve Tracer CS-3300圖示儀是曲線圖示儀, 可以支持Z大峰值從3,000V/400A至15,000V/8,000A. CS系列不僅適用于高電壓或高電流功率器件 (如 IGBT 和功率 MOSFET) 的特性測(cè)試, 還可用于各種半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試, 及電力電子器件 (如 SiC 和 GaN) 的電容測(cè)試 (選件 CS-603A/CS-605A).  測(cè)試結(jié)果可以存儲(chǔ)在內(nèi)存中, 或通過標(biāo)配的USB 端口和 LAN 接口被發(fā)送到 PC.

產(chǎn)品特點(diǎn)

顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏

正確測(cè)試半導(dǎo)體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管的Z佳解決方案

采用電路圖模式顯示內(nèi)部的配線狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測(cè)試時(shí)的誤操作(附圖)

WAVE模式: 能確認(rèn)實(shí)際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)

可以像示波器一樣通過觀察模塊上實(shí)際印加電流和電壓的波形來確定脈寬和實(shí)際測(cè)試點(diǎn) (Timing)

可通關(guān)確認(rèn)實(shí)際波形, 適時(shí)調(diào)整脈寬和測(cè)試點(diǎn)

避免示波器的探棒影響, 可確認(rèn)實(shí)時(shí)的異常信號(hào)

可非常容易地確認(rèn)模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況

可實(shí)現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測(cè)試 (選件CS-603A/CS-605A)

可實(shí)現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)

標(biāo)配LAN和USB接口

日本IWATSU Curve Tracer CS-3300圖示儀產(chǎn)品應(yīng)用

適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試

電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測(cè)量 (選件CS-603A/CS-605A)

可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)

靜態(tài)特性測(cè)試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)

傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測(cè)試功能

器件測(cè)試

可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多個(gè)器件的測(cè)試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來輸入樣本名稱, 以重復(fù)相同的測(cè)試.  在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個(gè)測(cè)試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動(dòng)存儲(chǔ)(附圖)

半導(dǎo)體溫度特性測(cè)試評(píng)估

CS-810控制加熱板. 儘管測(cè)試需要很長(zhǎng)的時(shí)間 (如溫度測(cè)試), 仍可自動(dòng)執(zhí)行 (附圖)

痠勞測(cè)試

在痠勞測(cè)試中可以包含各種各樣的參數(shù). CS-810 軟件支持長(zhǎng)時(shí)間可靠性測(cè)試.  通過曲線圖示CS-810監(jiān)察電壓和電流, 那些曲線的區(qū)別能被記錄下來.  痠勞測(cè)試可以實(shí)現(xiàn)多種參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量.  偏置會(huì)停止超越電流或電壓的限制值并以此設(shè)定為下限和上限的極限值.  CS-810 軟件測(cè)量 Ic 或 Vce (區(qū)間: 10s 至 2h) 和保持一定的電壓或電流 (10s 至 1,000h) (附圖)

與探針臺(tái)共用時(shí), 可實(shí)現(xiàn)晶圓測(cè)試 (附圖)

碳化硅SiC、氮化鎵GaN、IGBT曲線參數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品功能

電子電力元件或器件測(cè)試波形特性的功能顯示 (附圖)

配備選件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實(shí)現(xiàn)電子電力器件如SiC和GaN等的電容測(cè)試

在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動(dòng)與掃描電容測(cè)試

曲線圖示儀的測(cè)試適配器可用于各種器件封裝類型

測(cè)試參數(shù)包括:

Cies, Ciss (輸入電容)

Coss (輸出電容)

Cres, Crss (反向傳輸電容)

Ct (端子間的電容)

Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計(jì)算)

Rg (柵極電阻)

可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)

具有外部聯(lián)鎖功能的恒溫箱高低溫試驗(yàn)

與電腦全自動(dòng)化結(jié)合

CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件 (選件)

通過對(duì)主機(jī)的遠(yuǎn)程控制, 可實(shí)現(xiàn)各種自動(dòng)測(cè)試的軟件. 傳統(tǒng)上通過曲線圖示儀難以進(jìn)行的疲勞測(cè)試. 加熱實(shí)驗(yàn)或同時(shí)控制恒溫箱進(jìn)行多溫度點(diǎn)實(shí)驗(yàn)都可使用本軟件來實(shí)現(xiàn) (附圖)

USB 存儲(chǔ)器

圖像: 數(shù)據(jù)和設(shè)置條件

格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可選擇為黑色或白色, 彩色或單色)

波形數(shù)據(jù): 文本文件和二進(jìn)制文件

遠(yuǎn)程控制工具

如因保密需要而冇法使用USB存儲(chǔ)器時(shí), 可以通過安裝在PC的遠(yuǎn)程控制工具進(jìn)行數(shù)據(jù)存取

以太網(wǎng)

標(biāo)準(zhǔn)配置 (主機(jī)背面)

測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來設(shè)置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向.  同時(shí)具有客戶功能, 可以僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描, 特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試(附圖)

用戶友好的測(cè)量屏幕

圖形配置屏幕    晶體管V-I特性示例（跟蹤模式）

圖形配置選擇    晶體管I-V特性示例（Trace模式）

大電流脈沖模式（波模式）下的Vbe和Ic波形

高電流脈沖模式（波模式）下的Vbe和Ic波形

IWATSU半導(dǎo)體特性曲線圖示儀CS-3100，CS-3200，CS-3300規(guī)格參數(shù)指標(biāo)

CS-3100，CS-3200，CS-3300功能

觀察I-V曲線以及電壓和電流的應(yīng)用波形

電流和電壓脈沖在高電流模式下的應(yīng)用

應(yīng)用電流和電壓的脈沖寬度以及測(cè)量點(diǎn)額定可設(shè)定為50 - 400 μs之間（CS-3200和CS-3300）。

MOSFET“電流"和“電壓"特性測(cè)量示例

可選擇“掃描類別"(SWEEP TYPE)

“掃描類別"包括“下"(DOWN)、“上"(UP)和“定制"(CUSTOM)（所有模式）。

如“定制"模式，可以掃描值之間的范圍。

CS-800半導(dǎo)體參數(shù)搜索（可選）

該主控裝置軟件選項(xiàng)支持電壓和電流限制功能，以及自動(dòng)Vth測(cè)量功能。

限制掃描(LIMIT SWEEP)

如果在“掃描"操作前了電壓和電流限值，操作會(huì)在超過限值后的下一個(gè)測(cè)量點(diǎn)停止執(zhí)行。

Vth和hFE設(shè)置

Vth和hFE可以自動(dòng)測(cè)量。

Vth自動(dòng)測(cè)量示例。

遠(yuǎn)程工具

如果因安全原因不允許使用USB存儲(chǔ)器，可以通過局LAN將屏幕截圖、CSV格式測(cè)量結(jié)果及其他數(shù)據(jù)直接傳輸?shù)絺€(gè)人電腦上。

免費(fèi)提供遠(yuǎn)程操作軟件。但使用該軟件時(shí)必須安裝NI VISA庫(kù)（需要收費(fèi)）。    

CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量（選件）

這是一款電腦應(yīng)用程序，用于通過局域網(wǎng)將配有CS-800的主控裝置連接到個(gè)人電腦上（可選）。該應(yīng)用程序可以根據(jù)個(gè)人電腦的測(cè)量條件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，并確定數(shù)據(jù)的正確性。

CS-3100，CS-3200，CS-3300面板介紹

1顯示屏

8.4英寸亮麗屏可以顯示詳細(xì)的波形情況。采用大尺寸屏幕，可以顯示菜單和參數(shù)而不影響波形網(wǎng)格。

2連接性

CS-3000系列前面板上配有USB端口，方便生成報(bào)告。按下復(fù)制（Copy）按鈕即可將屏幕截圖保存到USB設(shè)備。

3讀出顯示屏

讀出顯示屏采用不同顏色代表不同功能，操作設(shè)置一目了然。

4斷路器

前面板上分別提供高電壓（所有型號(hào)）和高電流（CS-3200/3300）斷路器。

5菜單操作

使用功能旋鈕和功能鍵來操作菜單。

6復(fù)制(COPY)按鈕

7配置(CONFIGURATION)按鈕

用于顯示連接和信號(hào)應(yīng)用狀態(tài)。

8階梯發(fā)生器

使用該旋鈕可以設(shè)置步進(jìn)和偏移。

9查看/脈沖(VIEW/PULSE)按鈕

用于切換跟蹤(TRACE)與波形(WAVE)視圖。

在波形視圖下，屏蔽顯示應(yīng)用電壓和電流的時(shí)間軸波形，常規(guī)曲線跟蹤器無法觀察到這種波形。

10垂直(VERTICAL)和水平(HORIZONTAL)旋鈕

這些旋鈕安裝在易于操作的地方。

11變量(VARIABLE)旋鈕

用于調(diào)節(jié)集電極電源的輸出電壓。

采用耐用型旋鈕適合頻繁使用。